蔡司ZEISS XENOS 高精度橋式三坐標測量機

蔡司ZEISS XENOS 高精度橋式三坐標測量機

ZEISS XENOS：重新定義工業計量精度邊界

作為蔡司計量產品線的旗艦機型，ZEISS XENOS橋式三坐標測量機代表著當前工業計量技術的最高成就。其突破性的設計理念將測量精度推進至納米級范疇，在航空航天、光學精密制造、半導體設備等領域樹立了新的行業標準。

革命性的結構設計

設備采用整體式零膨脹陶瓷基座，配合主動溫控系統（ACT-TEMP）實現±0.01K的溫度穩定性。XENOS-CORE框架結構通過有限元優化，使動態剛度達到傳統機型的5倍，有效抑制測量過程中的微振動干擾。磁懸浮驅動系統（MAG-DRIVE）摒棄傳統摩擦傳動，定位分辨率達到驚人的0.01μm。

納米級測量系統

搭載第七代VAST-XT gold測頭系統，采用金剛石涂層探針和光學編碼器技術，實現0.05μm的單點重復精度。創新的XTR多傳感技術可自動切換接觸式測量與光學掃描模式，在復雜曲面測量時仍能保持0.1μm的輪廓精度。環境補償單元集成32通道傳感器網絡，實時修正溫度、氣壓、濕度等16項環境參數的影響。

智能控制平臺

配備ZEISS MMX操作系統，具備深度學習能力的自適應路徑規劃功能，可預測工件變形并自動優化測量軌跡。在線診斷系統（X-DIAG）通過3000+個監測點實現設備健康狀態的實時評估，關鍵部件壽命預測準確度達95%。"計量模式"可暫時關閉所有非必要功能，在超精密測量時消除系統內部電磁干擾。

典型應用場景

• 極紫外光刻機光學元件面形檢測（PV值<10nm）

• 航空發動機單晶渦輪葉片型腔測量（公差帶±0.8μm）

• 引力波探測器反射鏡組裝調試

• 高能物理實驗裝置精密定位

通過德國PTB認證和ISO 17025標準，XENOS的年精度漂移量控制在0.2μm以內，其建立的測量結果可直接作為國家計量基準的溯源依據。該設備現已應用于全球23個國家的一級計量實驗室，成為工業4.0時代精密制造的基石裝備。