蔡司ZEISS  O-INSPECT duo影像三坐標測量機

蔡司ZEISS  O-INSPECT duo影像三坐標測量機

一、產品定位與技術突破

作為蔡司2025年推出的新一代復合式測量平臺，O-INSPECT duo重新定義了中大型精密零件的檢測范式。其革命性的"Opti-Twin"雙傳感器架構，將8000萬像素光學測量系統（分辨率0.5μm）與主動式三維接觸測頭（重復性0.15μm）深度融合，在業內實現光學掃描與接觸測量的真正同步作業。這種創新設計使設備在保持(0.8+L/400)μm超高精度的同時，測量效率較傳統方案提升80%以上。

二、核心技術創新

1. 智能傳感器協同系統
   搭載的Multi-Sync動態協調算法，系統可基于工件CAD模型自動規劃測量路徑。當光學系統識別到深槽、內腔等光學盲區時，接觸測頭會在12ms內自動接管測量任務，整個過程無需人工干預。

2. AI驅動的測量優化
   2025年新增的深度學習模塊，通過分析歷史測量數據自動優化掃描策略。例如在汽車渦輪葉片檢測中，系統能智能識別氣膜孔特征，將關鍵尺寸的測量時間壓縮至傳統方法的1/3。

3. 工業4.0集成方案
   支持OPC UA標準協議，測量數據可實時上傳至ZEISS Quality Cloud平臺。配合新升級的Digital Twin功能，可實現測量程序與生產線的虛擬調試，將新品導入周期縮短65%。

三、典型應用場景

• 航空航天領域：針對鈦合金結構件，雙傳感器系統可在單次裝夾中完成輪廓掃描（精度±1.2μm）和孔位測量（±0.7μm）

• 醫療器械檢測：對骨科植入物的多孔結構，光學系統進行表面形貌分析，接觸測頭同步驗證關鍵配合尺寸

• 新能源電池：通過紅外輔助測量模塊，實現帶電狀態下的極片厚度檢測（選配功能）

四、服務生態體系

標配蔡司最新PiWeb 2025軟件，提供從數據采集到SPC分析的完整解決方案。用戶可通過AR遠程協助功能獲得德國工程師的實時技術支持，平均故障響應時間縮短至2小時內。