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NITTOSEIKO日東精工 （原 三菱化學）
表面電阻率測試儀
應用行業：用于液晶半導體、材料研究院等行業。
四點探針法是將四個針狀電極[圖3.3.2 四點探針]沿直線放置在樣品上，如圖[圖3.3.1 使用四點探針測量]所示。
在兩個外探針（A和D）之間流過恒定電流，測量兩個內探針（B和C）之間產生的電位差以求出電阻。
接下來，通過將獲得的電阻（R，單位：Ω）乘以樣品厚度t（cm）和校正因子RCF（電阻率校正因子）來計算體積電阻率。
這樣，四探針法和四探針法共用相同的測量系統，僅與樣品接觸的電極部分不同。
只需將四探針法的探針（四探針電極）壓在樣品上即可進行測量，與之前的四探針法相比，
無需在樣品上形成電極，大大提高了工作效率。
[表3.3 四探針法與四探針法的比較] 四探針法產生的電場圖像如[圖3.3.3 四探針探針產生的電場]所示。
