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Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀易使用即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞...

Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...

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Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...

Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀安裝簡易即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非...

Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)...

Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀省空間即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破...

HITACHI日立紫外分光光度計易操作UH5200不僅配有高分辨率彩色LCD大屏和便捷小鍵盤，還可以通過USB接口輕松連接外部設(shè)備（讀卡器、鍵盤），實現(xiàn)樣品信息...

HITACHI日立分光光度計易操作U-3900/3900H分光光度計采用Seya-Namioka單色儀，安裝了像差校正凹面光柵。同時擁有光束的聚焦和色散功能，光...

HITACHI日立紫外分光光度計易使用UH5700采用連續(xù)可變狹縫，在近紅外波長區(qū)測定低光量時，自動加寬狹縫；測定高光量時，自動減小狹縫寬度。支持低噪音測定超大...

HITACHI日立雙光束穩(wěn)定光學(xué)光度計易使用U-3900/3900H分光光度計采用Seya-Namioka單色儀，安裝了像差校正凹面光柵。同時擁有光束的聚焦和色...

HITACHI日立熒光分光光度計易維護F-2700熒光分光光度計在設(shè)計上充分考慮了用戶的操作體驗。操作鍵盤設(shè)計簡潔直觀，類似于手機按鍵，用戶無需專業(yè)培訓(xùn)即可快速...

HITACHI日立熒光分光光度計靈敏度高F-7100是在前代機型F-7000的基礎(chǔ)上更新升級，基本性能得到了進一步提升。靈敏度（S/N）是選擇熒光分光光度計的重...

HITACHI日立分光光度計易操作采用優(yōu)良的技術(shù)和優(yōu)質(zhì)的材料制造而成，F(xiàn)-2700在長時間運行過程中能夠保持穩(wěn)定的性能表現(xiàn)，減少了因儀器故障而導(dǎo)致的實驗中斷。

HITACHI日立分光光度計易使用F-7000能夠處理濃度范圍高達6個數(shù)量級的數(shù)據(jù)，生成校正曲線，無需對未知樣品進行任何預(yù)處理即可進行定量。此外，增強的時間掃描...

HITACHI日立熒光分光光度計易使用F-7100采用全新氙燈，并改良了燈電源，使得光源亮度提升，并有效延長了氙燈的使用壽命。延長燈泡更換周期可降低耗材成本，減...

Otsuka大塚 多通道光譜儀配件豐富MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統(tǒng)。可以瞬間進行分光光譜的測量,也可以通過自由組合的光學(xué)系和豐富的配件，搭建...

HITACHI日立熒光分光光度計高精度傳統(tǒng)熒光光譜儀很難實現(xiàn)化學(xué)反應(yīng)監(jiān)控，但F-7100超高速的掃描速度可使這種測量輕松進行。在本例中，熒光光譜測量追蹤2秒時間...

HITACHI日立熒光分光光度計高精度F-4700采用了全新的長壽命氙燈，并通過改良燈電源，使得光源亮度提升，同時有效延長了氙燈的使用壽命至1000小時。這一改...

Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 高精度測量 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏...