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HITACHI日立熒光分光光度計易使用F-7100采用全新氙燈，并改良了燈電源，使得光源亮度提升，并有效延長了氙燈的使用壽命。延長燈泡更換周期可降低耗材成本，減...

Otsuka大塚 多通道光譜儀配件豐富MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統?？梢运查g進行分光光譜的測量,也可以通過自由組合的光學系和豐富的配件，搭建...

YAMADA山田光學晶圓審核標準光源箱YP-250I半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業照明設備，專門設計用于晶圓生產過程中的缺陷檢測和質量控制環節。隨著半...

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YAMADA山田光學晶圓劃痕檢測燈YP-250I 半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業照明設備，專門設計用于晶圓生產過程中的缺陷檢測和質量控制環節。隨著半導...

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HITACHI日立熒光分光光度計高精度傳統熒光光譜儀很難實現化學反應監控，但F-7100超高速的掃描速度可使這種測量輕松進行。在本例中，熒光光譜測量追蹤2秒時間...

HITACHI日立熒光分光光度計高精度F-4700采用了全新的長壽命氙燈，并通過改良燈電源，使得光源亮度提升，同時有效延長了氙燈的使用壽命至1000小時。這一改...

Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 高精度測量 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏...

Otsuka大塚顯微分光膜厚儀操作簡單非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測...

Otsuka大塚顯微分光膜厚儀高精度 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測...

Otsuka大塚顯微分光膜厚儀 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚...

HITACHI日立熒光分光光度計多功能性F-7000能夠處理濃度范圍高達6個數量級的數據，生成校正曲線，無需對未知樣品進行任何預處理即可進行定量。此外，增強的時...

HITACHI日立熒光分光光度計廣泛應用F-7000能夠處理濃度范圍高達6個數量級的數據，生成校正曲線，無需對未知樣品進行任何預處理即可進行定量。此外，增強的時...