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“Thermal-F1"是熱發(fā)射顯微鏡的第二代產(chǎn)品
PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光顯微鏡，通過偵測半導體缺陷引起的微弱的光發(fā)射和熱發(fā)射來準確定位半導體器件的失效位置
iPHEMOS-MP倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統(tǒng)，通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發(fā)射和熱發(fā)射來準確定位半導體器件的失效位置
iPHEMOS-DD倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統(tǒng)，通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發(fā)射和熱發(fā)射來準確定位半導體器件的失效位置
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