當前位置：廣州佰微儀器科技有限公司>>天平>> XPR225DU/AC梅特勒十萬分之一分析天平
| 測量精度 | 0.01 mg /0.1 mg | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 校準方式 | 內部（全自動/FACT） |
| 儀器精度 | 十萬分之一克 | 儀器量程 | 200-500g |
| 儀器種類 | 分析天平 | 應用領域 | 環保,食品/農產品,化工,制藥/生物制藥,綜合 |
| 重復性 | 0.01 mg | 最大量程 | 121 /220g |
梅特勒十萬分之一分析天平XPR225DU/AC
更佳性能，輕松合規.出色的結果和智能的質量保證。量程為121/220g，可讀性為0.01/0.1mg； 集成方法； 結果記事本； 懸掛型秤盤； 易于清潔； ErgoClip可實現一步加樣； LabX和自動分配選項
出色的稱量性能
出色的稱量單元和高溫穩定性確保了較低的最小稱量值，使您能夠準確稱量小而珍貴的樣品。
始終提供符合審核要求的結果
StatusLight™、LevelControl和GWP認證提供一目了然的信息，以驗證您的結果是否有效，以備隨時接受審核。
避免靜電造成的隱藏錯誤
StaticDetect會在靜電荷超過預定限值時發出警告。可選的去靜電裝置能在數秒內自動消除電荷。
規格 - 梅特勒十萬分之一分析天平XPR225DU/AC
最大秤量 | 121 g/220 g |
可讀性 | 0.01 mg |
重復性（典型） | 0.01 mg |
最小稱量值（符合USP，允差為0.1%，典型） | 14 mg |
穩定時間 | 1.5 s |
校正 | 內部（全自動/FACT） |
接口 | RS232（集成式/選件） |
用戶管理 | 密碼保護 |
認證 | 是 |
秤盤尺寸 (寬x深) | 78 mm x 73 mm |
線性誤差（典型）± | 0.2 mg |
外形尺寸 (高x寬x深) | 292 mm x 195 mm x 485 mm |
文檔選項 | 基本電子文檔 |
合規性選項 | 密碼保護 |
認證天平 | 是 |
自動靜電檢測 | 是 |
天平系列 | XPR |
天平型號 | 分析天平 |
價格 | $$$ |
系列 | 超越系列 |
等級 | 卓-越 |
特點 | 密碼保護 |
符合21 CFR第11部分的稱量規定 | 是 |
自動化選件 | 自動化工作流程 |
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