雙聚焦輝光放電質譜儀是一個專為高精度元素分析所設計的儀器。此雙聚焦輝光放電質譜儀提供了固體金屬與絕緣體的直接分析檢測。它具有非常寬的元素覆蓋范圍，可得到超過70種元素的有效數據，靈敏度高，輕元素重元素均可。
目前，本產品結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的較佳工具。
雙聚焦輝光放電質譜儀集中了輝光放電和高分辨質譜的優勢，在以下方面有杰出表現：
1、樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設計使可縮短換樣和分析時間，顯著提高生產率；
2、檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達12個數量級，可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成；
3、具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。
該儀器的主要特性：
1、低至亞ppb級的定量數據；
2、具有深度剖面同位素比值分析能力；
3、少的樣品制備過程；
4、高分辨率，特別是對于有干擾離子存在的測定而言十分重要；
5、廣泛的元素涵蓋范圍，軟件中包括70個元素相關的干擾離子數據；
6、由于原子化和離子化過程發生在不同區域，帶來可忽略的基體效應。
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