目錄:牛津儀器(上海)有限公司>>Nanomanipulation>> Cryo lift-out
牛津儀器納米操作手OmniProbe的低溫提取(Cryo lift-out)將樣品提取功能擴展至低溫樣品（包括用高壓冷凍法制備的樣品）。
低溫-聚焦離子束顯微鏡（Cryo-FIB）的提取功能可以在經第三方低溫系統冷卻至-180°C的樣品上操作。通過結合低溫-透射電子顯微鏡（Cryo-TEM）或低溫-原子探針(cryo-atom probe)可以拓展納米分析的樣品類型和應用領域 。
低溫提取裝置由裝配有隔熱探針的定制探針軸組成，通過直接連接到低溫系統的冷指實現被動冷卻。牛津儀器專有的冰附著方法使用時包含了非獨占許可。
OmniProbe 200系統具有低溫提取功能，并且可在現場改造。
目前大多數電池都使用有機電解質，電極和電解質之間的界面對電池的諸多性能有著重要的影響。由于缺乏在高分辨率下直接研究的能力，在這些界面上發(fā)生的許多過程都沒有被很好地理解。低溫提取與低溫TEM/STEM的結合，實現了在這些液-固界面上的高分辨率成像。
雖然液體電池座可以用于TEM成像，但受制于樣品尺寸和液體類型。粘稠的液體（如有機電解質）會導致液體細胞的薄窗凸出，由此造成的散射效應和電子束寬化會導致成像分辨率降低。
采用低溫提取，通過冷凍電池，從液-固界面提取截面樣品，利用FIB將樣品厚度減薄至小于100nm，從而可獲得高分辨率的圖像。
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