低的運行成本借助獲得的 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術，珀金埃爾默Avio 200 ICP 僅需消耗其他系統一半的氬氣量，即可生成穩定、耐基體的等離子體，同時賦予您：
• 所有 ICP 中低的操作成本
• 無需對傳統的射頻發生線圈進行冷卻和維護，提供出色的運行效率和生產力另外，為了提率，珀金埃爾默儀器具有獲得的動態波長穩定（DWS）功能，在開機短短幾分鐘之后您就可以進行樣品分析，并在分析工作結束后關閉儀器電源以節約電能。
強大的雙向觀測功能傳統的同步垂直雙向觀測系統在實現軸向、徑向雙向觀測時性能往往會受到影響。Avio 200 系統獲得的雙向觀測功能，可測量波長范圍寬，不會造成光通量和靈敏度的損失。即使是吸收波長高于 500 納米或低于 200 納米的元素檢出限也可達ppb級別。該 Avio 系統*的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍，
珀金埃爾默Avio 200 ICP 確保實現：
• 軸向觀測/徑向觀測
• 更簡便的樣品制備過程，樣品溶液無需稀釋
• 高、低濃度可以在同一次運行中進行測量
• 更好的質量控制和更準確的結果
• 減少重復運行
集成等離子體觀測相機可簡化您的開發方法，同時借助 Avio 200 系統的 PlasmaCam™ 技術，盡享遠程監控等離子體的便利。彩色相機可幫助您：
• 實時觀測等離子體
• 執行遠程診斷 • 查看進樣部件
珀金埃爾默Avio 200 ICP 革新性 PlasmaShear 系統，可實現無氬干擾消除為了消除軸向觀測的干擾，
需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經濟。其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統*的 PlasmaShear™ 技術只需空氣即可，無需采樣錐等需要特殊維護的部件。這是一個*集成的、*自動化的、能提供*軸向分析的干擾消除系統。
CCD 檢測器，可實現的準確度和精密度借助全波長功能，
Avio 200 系統強大的電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。 Avio 系統的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。
帶有快速更換炬管底座的垂直等離子體，可實現的基體耐受性即使 ICP 正在運行，Avio 200 系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設計與眾不同，
具有以下特點：
• 一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管，旨在減少維護和破損的可能性
• 自動自對準，即使在拆卸后也能提供一致的采樣深度設置 • 兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性
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