Agilent 5110 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 是測 量散裝原料（填充劑、粘合劑及其他賦形劑）中元素雜 質的理想之選，并可用于口服制劑成品。這款儀器 專為測量挑戰性的樣品而設計，包括以下部件：

• 垂直炬管設計：檢測范圍更寬，只需極少的樣品稀釋 甚至無需樣品稀釋便可對復雜基質樣品進行測試，總 溶解固體量高達 25% 的樣品也能輕松應對

• Vista Chip II 檢測器：具有寬波長覆蓋范圍的高速檢 測器，能夠在單次測量中測量 167–785 nm 的所有 波長，使用戶能夠選擇無干擾的波長

• 快速分析。在不影響性能的前提下，安捷倫5110 ICP-OES同步垂 直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 每 24 小時可測量多 2500 個樣品。5110 系統對于低產量及高產量實驗室 均適用

• 可選擇不同的背景校正技術：擬合背景校正 (FBC) 和 快速自動曲線擬合技術 (FACT)。FBC 可簡化方法開 發并降低分析人員分析樣品的復雜性。FACT 可校正 光譜干擾和復雜的背景結構

• 簡便易用。直觀的 Agilent ICP Expert 軟件中附 帶用于藥物樣品中元素雜質分析的預設方法（版 本 7.4 及更高版本）。該方法可滿足 ICH-Q3D 和 USP<232>/<233> 的要求