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賽默飛ICP-MS是獲得認可的痕量元素分析和定量的技術。 其應用范圍從半導體工業到地質和環保分析、從生物研究到材料科學。賽默飛ICP-MS嚴重的限制是元素信號的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質。 高質量分辨率是識別和消除干擾的蕞佳標準。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。
多元素分析：
1、多元素檢測器具備處理瞬態信號的速度。
2、從超痕量到基質組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量。
3、與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質兼容。
全自動的常規分析：
1、自動調節所有參數，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復而可靠的系統設置。
2、全面、可定制的質量控制系統。
3、可靠耐用，可作為全年無休的生產控制工具，蕞大化樣品通量。
具有靈活性和易用性的先進研究工具：
1、擁有權限進入方法開發的所有儀器參數。
2、具有高質量分辨率，可識別受干擾的同位素光譜： 生成明確的元素光譜。
3、無論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測。
4、熱和冷等離子體狀態。
5、高穩定性的同位素比。
賽默飛ICP-MS使用特性：
1、符合人機工效學設計的賽默飛ICP-MS，其所用空間甚至小于一些AAS系統。
2、創新的保護性離子提取技術和Infinity II型離子透鏡技術，以chicane離子偏轉裝置的六極桿設計為基礎，提供蕞低的背景噪聲。
3、用戶可互換Xt接口和Xs接口。
4、離子透鏡設計使簡單的場升級到碰撞反應池技術性能，不會影響到正常靈敏度或背景。
賽默飛ICP-MS
5、高性能四級桿分析器所需的高真空系統由一個全新的分流式渦流分子泵后接一個機械泵提供。
6、Peltier冷卻和第三代碰撞反應池技術選項提供增強的性能，使具有碰撞反應池功能的賽默飛ICP-MS儀器獲得出色的信號/背景。
7、泵系統可以使用稀釋的反應氣體，如7% 氫氣/氦氣混合氣H2或1%氨氣/氦氣混合氣用于CCT模塊中，而非使用未稀釋的氫氣H2或氨氣以減少腐蝕問題，提高可靠性和安全性。
8、同時型模擬/脈沖檢測器以及其實時的多通道電子學系統提供了大于8個量級的動態線性范圍，使得儀器能夠同時適應穩定信號和瞬時信號分析。
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