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耗散型石英晶體微天平是石英晶體微天平的擴展型，是一種用于測量真空或氣相中表面質量變化的技術。可以實時測量芯片表面上吸附或損失的質量，因此非常適合測量諸如電子半導體器件或光學薄膜等薄膜沉積過程中膜的形成速率以及厚度。
簡化流動模塊設計，使得芯片安裝，儀器操作更為簡便。更加直觀簡便的軟件操作，省略了一些復雜繁瑣的軟件設置步驟，使得初學者容易上手。實驗數據簡明扼要，分析結果一目了然，簡化了倍頻分析，更加突出耗散型石英晶體微天平定性分析的重要功能。
耗散型石英晶體微天平的產品優勢：
●全自動的啟鑰系統
集成化的樣品處理方式以及直觀的軟件操控使得儀器操作變得易于上手。預先編輯的實驗程序使得儀器運行再也不需要人為監管。
●低至50μL的樣品量
夠進行的樣品處理，從而使樣品得到有效利用。
●便捷
八通道傳感器模塊可以提前設置好八個同步實驗，可減少動手時間，提高了實驗效率。
●靈活的流量控制和*的實驗重現性
獨立工作的高精度注射泵保證了四個通道高度的獨立流量控制。可編程控制樣品混合如自動樣品濃度梯度保證了實驗*的重現性。
●內置的溫度控制
試驗溫度可由軟件控制在4到70℃之間。可根據實驗需要配置預加熱或預降溫的樣品架。
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