超組合——AFM和GISAXS表征多孔薄膜

在這個世界上個體的力量是有限的，

 

80/90的小伙伴們都知道，

 

在龍珠里

 

悟空和貝吉塔的合體

 

 

才是燃時刻

 

才能打敗強大的敵人！

 

做實驗也是一樣的道理哦！

 

使用Tosca™ 400和SAXSpoint 2.0系統

 

來表征垂直基底的多孔結構聚合物薄膜。

 

掠入射小角X射線散射（GISAXS）

 

是一種用于分析納米尺度表面結構

 

高度靈敏的測量方法

 

給出一個大樣品面積上的平均信息。

 

原子力顯微鏡（AFM）能提供

 

局部表面結構的高空間分辨率的直接可視信息。

 

這使得兩種方法在納米結構表面表征上互補。

 

Anton Paar –讓膜研究更易進行

 

納米孔膜具有高超的潛力

 

如：現代電池和能量轉換應用，以及水處理領域。

 

這類樣品的孔隙結構的表征

 

對它的性能是極其重要的。

 

這里我們展示的是對厚度為100 nm

 

垂直硅基底的多孔高分子膜的表征。

 

 

 Tosca™ 400 – 高度自動化工業AFM提供的圖片分辨率和高樣品通量。

 

 

SAXSpoint 2.0 – 多用途點準直SAXS儀器，提供高分辨率和光通量，使得它成為膜研究的工具。

 

 

 

 

Fig. 1: 納米多孔PE/PEG薄膜水平方向一維切面的二維GISAXS圖樣（左）和AFM形貌圖（右）。

 

左邊的圖是用SAXSpoint 2.0系統研究結構的GISAXS圖樣。從反射圖上計算得到孔-孔間距大約50 nm。從相應的反射位置（見插圖）看，孔的六方排布可見。

 

右邊的圖顯示的是相應的AFM形貌圖，使用Anton Paar新的AFM Tosca™ 400獲得。它證實了孔是六方排布，周期性50 nm和平均孔直徑為20 nm。

超組合——AFM和GISAXS表征多孔薄膜

在這個世界上個體的力量是有限的，

 

80/90的小伙伴們都知道，

 

在龍珠里

 

悟空和貝吉塔的合體

 

 

才是燃時刻

 

才能打敗強大的敵人！

 

做實驗也是一樣的道理哦！

 

使用Tosca™ 400和SAXSpoint 2.0系統

 

來表征垂直基底的多孔結構聚合物薄膜。

 

掠入射小角X射線散射（GISAXS）

 

是一種用于分析納米尺度表面結構

 

高度靈敏的測量方法

 

給出一個大樣品面積上的平均信息。

 

原子力顯微鏡（AFM）能提供

 

局部表面結構的高空間分辨率的直接可視信息。

 

這使得兩種方法在納米結構表面表征上互補。

 

Anton Paar –讓膜研究更易進行

 

納米孔膜具有高超的潛力

 

如：現代電池和能量轉換應用，以及水處理領域。

 

這類樣品的孔隙結構的表征

 

對它的性能是極其重要的。

 

這里我們展示的是對厚度為100 nm

 

垂直硅基底的多孔高分子膜的表征。

 

 

 Tosca™ 400 – 高度自動化工業AFM提供的圖片分辨率和高樣品通量。

 

 

SAXSpoint 2.0 – 多用途點準直SAXS儀器，提供高分辨率和光通量，使得它成為膜研究的工具。

 

 

 

 

Fig. 1: 納米多孔PE/PEG薄膜水平方向一維切面的二維GISAXS圖樣（左）和AFM形貌圖（右）。

 

左邊的圖是用SAXSpoint 2.0系統研究結構的GISAXS圖樣。從反射圖上計算得到孔-孔間距大約50 nm。從相應的反射位置（見插圖）看，孔的六方排布可見。

 

右邊的圖顯示的是相應的AFM形貌圖，使用Anton Paar新的AFM Tosca™ 400獲得。它證實了孔是六方排布，周期性50 nm和平均孔直徑為20 nm。