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直讀光譜儀工作原理：各種原子在受到一定能量激發后后釋放出特定波長的光（電磁波），各特定波長光的強度與各元素的濃度存在函數關系，因此測量特定波長光的強度，就可以測出樣品中各元素的濃度。
直讀光譜儀的結構：
光譜分析：使用光譜儀，采用放電方式對試樣中所含分析元素進行激發，根據測量原子譜線的光譜強度，進行定量分析的方法。
光電測光法：采用光電倍增管檢測光強度的測定法。
電極：作為形成放電間隙的試樣和對電極的總稱。
予放電時間：設定從放電開始到激發強度穩定這一段的非積分時間。
氬氣：在電極周圍形成流動的氬保護氣罩，以降低試樣影響，減少空氣中氧的吸收，確保放電穩定。
分析試樣：供檢測用試樣。
標準試樣：根據JIS（日本工業標準）或其它相應標準的化學分析方法結合分析元素含量定值，用于制作檢量線用的試樣。
標準化試樣：儀器運行上段時間或檢測一定數日的試樣后，對檢量線進行校正所使用的氬樣。
直讀光譜儀的數據采集系統：
（1）高性能ARM數據處理器，具有超高速數據采集及控制功能；
（2）高性能多CMOS檢測技術，波段內的譜線全譜接收；
（3）外置式計算機；
（4）FPGA及高速數據通訊技術，數據讀入功能強大，檢測數據整體讀入時間短。
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