PICTOS的特點
*從5微米到3500微米顆粒的粒度和粒形同時分析
*適合同現有的取樣系統結合,如代表性取樣系統TWISTER, 單探針式取樣系統或者是混樣器。
*有效的分散取代了原來需要通過軟件來修正圖形邊界的問題,測試結果更。
*得到高速顆粒流的準靜態圖像
*清晰的圖像邊界,顆粒的大小和清晰度同顆粒在測試區域的位置無關(無景深)
*以黑色輪廓清楚地顯示顆粒的邊界,實現對全透明顆粒的檢測
*短時間內得到顆粒的清晰圖像,測試結果的統計性好
*用戶自定義數據分級功能滿足用戶對數據細分高達30000級,對分布曲線上的任何一個分級點無限制。
預定義的分級數據已儲存于軟件中,包括HELOS系列數據等級、篩分分級點等等
*的計算模式可供選擇
測試完畢后可以重新選擇模式進行計算和數據處理:
粒度分析:等效投影圓面積徑,Feret徑等等
粒形分析:球形度、長細比和不規則度
纖維分析:纖維長度、纖維粒徑、彎曲系數和復雜結構的分析
顆粒圖形庫:根據篩選條件顯示并打印出用戶挑選出的特定顆粒,追溯顆粒原始運動情況,如篩選球形顆粒所占的比例等
用戶自定義分析:提供基于滿足用戶所定義和要求的粒度粒形分析。
*PICTOS符合21 CFR Rule 11的電子文檔和電子簽名的安全性要求。
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。