低溫試驗測試的低溫范圍

全年溫度通常在0℃ ~ +40℃的范圍內, 一般冬天時低溫常介于
-32℃ ~ -46℃之間，-51℃出現(xiàn)機率則小于20%。
  不同類型的產品采用的測試條件也不同.例如: 消費性電子環(huán)境試驗溫度通常介于+5℃~ -5℃之間，網通類產品與工業(yè)用產品因使用壽命考量通常藉于-5℃~-20℃之間，若屬長期戶外使用之產品則建議其耐環(huán)境溫度至少應-30℃才能有竹垢的可靠度水準.

     IEC對于試驗前處理、試驗后處理、升溫速度、溫度穩(wěn)定定義、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有予以規(guī)范。

     在應用上通常區(qū)分為儲存低溫試驗（Low Temperature Storage Test）與操作低溫試驗（Low Temperature Operating Test），進行操作低溫試驗時強烈建議須執(zhí)行低溫啟動試驗（Cold start test），因在實務經驗中多數(shù)產品均存在著在低溫下出現(xiàn)電源無法啟動現(xiàn)象。若能在執(zhí)行低溫試驗時伴隨著產品zui低工作電壓一并進行則更佳。

     常見低溫效應包括低溫無法啟動、材料龜裂、玻璃材料脆化、可動部份卡死、潤滑特性改變等現(xiàn)象.