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金相顯微鏡選型必須關注這幾方面
01了解正置與倒置金相顯微鏡的主要區別：
倒置金相顯微鏡:主要適用對各種金屬和合金材料的組織結構、鑄件質量以及熱處理后相位組織進行研究分析工作，是金屬學研究的*儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時只要一個觀察面平整即可。
正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。
02金相顯微鏡物鏡有限遠光學系統和無限遠光學系統的區別？
無限遠光學校正系統：無限遠校正光學系統中，由標本通過物鏡的光線不在物鏡成像，而是作為無限遠的平行光束進入成像透鏡，由成像透鏡形成中間像。
無限遠光學系統就是在物鏡與中間像平面之間裝上一個結像透鏡，使中間光線轉為平行光束，理論上光束可延伸到無限遠，不受機械筒長的限制，因此無限遠光學系統的中間可附加多個光學附件，并不影響光學成像質量。
有限遠光學校正系統：有限遠校正光學系統中，由物鏡單獨形成中間像。
有限遠是指固定有一定鏡筒長度的光學系統，從物鏡的裝卸端到目鏡插入筒的一端(即目鏡接口上端面)的距離。
03金相顯微鏡明場/暗場區別？
什么是明場：是通過直射光線將物體照亮之后，將反射光直接進入成像系統，然后使物體成像。所成得像則為彩色的圖像，不過對于一些微小的裂紋跟劃傷等則看不清晰。
什么是暗場：傾斜入射的光線打在檢驗區域的旁邊，*不進入成像系統，能進入成像系統的只是被受照物體表面的微粒散射或衍射的光線，成像後得到的是這些亮的微粒像，成像為黑白圖像。
可以更清楚看到細小的劃傷跟裂紋。如下圖，暗場像和明場像的區別。
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