萬睿視VAREX非晶硅平板探測器DR和非晶硒的區(qū)別

1、結構不同。非晶硅平板探測器的結構主要是由閃爍體和感光體(具有光電二極管作用的非晶硅層)集成在一起再加TFT陣列構成;非晶硒平板探測器的結構主要是由非晶硒層加TFT陣列構成。

2、A/D轉換原理不同。非晶硅原理是閃爍體經X射線曝光后，將X射線光子轉換為可見光，而后由具有光電二極管作用的非晶硅層變?yōu)閳D像電信號，通過TFT檢測陣列，再經A/D轉換終獲得數字化圖像；非晶硒原理是非晶硒層經X射線曝光后直接產生e799bee5baa6e79fa5e98193e58685e5aeb931333431363036電信號，通過TFT檢測陣列，再經A/D轉換終獲得數字化圖像。

3、熒光材料層和探測元陣列層的不同。非晶硒平板探測器要比非晶硅平板探測器在圖像質量上更清晰，銳利度更好。

4、非晶硒平板探測器在使用過程中對工作環(huán)境要求非常高，壽命短，故障率高，而且維護成本遠大于非晶硅平板探測器，因此目前市場上平板探測器以非晶硅平板占主導位置。

平板主要是非晶硅平板探測器和非晶硒平板探測器，非晶硅是間接成像，技術成熟，GPS都在用。非晶硒是真正意義上的直接成像，那這兩者所區(qū)別。

平板探測器構成的DR主要分為兩種:一種是非晶硅平板探測器,屬于間接能量轉；另一種是非晶硒平板探測器,屬于直接能量轉換方式。

萬睿視Varex平板探測器DR-PaxScan® 1515DXT  全國總代理

我司銷售工業(yè)X射線探傷機，萬睿視（Varex）平板探測器（DR-PaxScan® 1515DXT平板探測器、DR-PaxScan®2520DX平板探測器、DR-PaxScan®2530HE平板探測器、DR-PaxScan® 1313DX平板探測器、DR-PaxScan®2530DX平板探測器、DR-PaxScan® 1308DXT平板探測器、DR-PaxScan®1308DX平板探測器）及球管。

超聲波探傷儀（復合材料粘接檢測儀BondMaster 1000e+、超聲探傷儀EPOCH XT、超聲探傷儀EPOCH 600、超聲探傷儀EPOCH LTC、超聲波TOFD相控陣OmniScan MX2、超聲波TOFD相控陣Ominscan SX、超聲探傷儀EPOCH 1000系列、超聲波點焊檢測系統(tǒng)USLT USB、超聲波探傷儀USN60、超聲波探傷儀USM 36、便攜式超聲波探傷儀USMgo+）、

探頭線、探頭、各種試塊、

測厚儀（MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀、新型45MG超聲波測厚儀、高級多功能超聲波測厚儀38DL PLUS、經濟型超聲波測厚儀27MG、35RDC復合材料粘接檢測儀、便攜式MG2系列腐蝕測厚儀、超聲波測厚儀DM5E、精密測厚儀CL5），

光譜儀（Vanta手持式XRF分析儀、DELTA Professional合金分析儀、DELTA Element分析儀），

工業(yè)視頻內窺鏡（EFER FLASH 900、 IPLEX NX?、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS）、紫外熒光內窺鏡、磁粉探傷機、反差增強劑，滲透劑等，

我公司專業(yè)維修以下超聲波設備：26mg壁厚儀檢測、售后維修27mg測厚儀、45MG測厚儀檢修、38DL PLUS測厚儀操作手冊、MAGNA-MIKE 8600測厚儀操作視頻、DM5E測厚儀、CL5測厚儀、EPOCH XT探傷儀、售后維修EPOCH 600探傷儀、售后維修EPOCH LTC探傷儀、維修OmniScan MX2相控陣探傷儀、售后維修Ominscan SX相控陣探傷儀、售后維修EPOCH 1000探傷儀、售后維修USN60探傷儀、USM 36探傷儀、USMgo+探傷儀、epoch 6LT探傷儀、EPOCH 650探傷儀