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電化學顯微鏡工作原理
掃描振動參比電極系統是利用振動電極和鎖相放大器消除微區掃描中的噪聲干擾,提高測量精度. SVET系統具有高靈敏度,非破壞性,可進行電化學活性測量的特點.它可進行線性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應力腐蝕的產生,發展等）,表面涂層及緩蝕劑的評價等方面的研究,掃描振動探針（SVET）是在液態腐蝕環境下,進行腐蝕研究的有力工具,它能檢測小于5uA/cm2的原位腐蝕。
電化學顯微鏡是一種基于超微電極的掃描微探針電化學技能，它將一支能夠進行三維方向移動的超微盤電極作為作業探針沉浸在電解質溶液中，在離基底約幾微米的方位進行掃描，通過探針上的電流改變來反映基底的形貌和性質。它是一款精密的掃描微電極體系，具有較高空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。
微區電化學顯微鏡的日常使用注意事項：
1.搬動微區電化學顯微鏡時，要一手握鏡臂，一手扶鏡座，兩上臂緊靠胸壁。切勿一手斜提，前后擺動，以防鏡頭或其他零件跌落。
2.觀察標本時，顯微鏡離實驗臺邊緣應保持一定距離(5cm)，以免顯微鏡翻倒落地。鏡柱與鏡臂間的傾斜角度不得超過45度，用完立即還原。
3.使用時要嚴格按步驟操作，熟悉顯微鏡各部件性能，掌握粗、細調節鈕的轉動方向與鏡筒升降關系。轉動粗調節鈕向下時，眼睛必須注視物鏡頭。
4.觀察帶有液體的臨時標本時要加蓋片，不能使用傾斜關節，以免液體污染鏡頭和顯微鏡。
5.粗、細調節鈕要配合使用，細調節鈕不能單方向過度旋轉，調節焦距時，要從側面注視鏡筒下降，以免壓壞標本和鏡頭。
6.用單筒顯微鏡觀察標本，應雙眼同時睜開，左眼觀察物像，右眼用以繪圖，左手調節焦距，右手移動標本或繪圖。
7.禁止隨意擰開或調換目鏡、物鏡和聚光器等零件。
8.光學部件有污垢，可用擦鏡紙或綢布擦凈，切勿用手指、粗紙或手帕去擦，以防損壞微區電化學顯微鏡的鏡面。
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