micro-epsilo工業標準光譜共焦傳感器控制器lDT 242x 

實際應用中各種被測表面的高精度位移和距離測量

源于光譜共焦測量原理，用戶可以實現超高精度位移和距離測量--同時適用于漫反射和鏡面被測物。超小的測量光斑可以識別微小的幾何尺寸和結構。同軸測量光路避免了陰影遮擋帶來的問題，使光譜共焦位移傳感器可以用于窄縫和深孔。采用90°出光版本光譜共焦傳感器，客戶可以測量深孔或凹槽內壁幾何尺寸。



透明物體單側厚度測量
源于光譜共焦測量原理，用戶可以從一側測量透明物體的厚度。僅用一支光譜共焦位移傳感器，用戶可以獲得微米級別測量精度。控制器預存可編輯，可擴展的材料庫。材料的光學特性，如折射率可以通過網絡界面存儲和編輯，無需安裝額外軟件。多峰值測量允許多6個峰值，可以測量多層被測物（如夾層玻璃）的厚度。



高分辨率和高測量速度
光譜共焦控制器提供出色的信噪比，確保高精度測量。作為目前的控制器之一，德國米銥光譜共焦位移傳感器特別適合高動態檢測任務。快速表面補光技術可以快速調節光譜共焦傳感器的曝光時間，以實現對于反光特性快速變化表面的穩定測量。輸出端口包括RS422, Ethernet或EtherCAT以及模擬量輸出。




使用簡便的網絡界面
源自客戶友好的網絡界面，光譜共焦位移傳感器全部配置過程無需額外軟件。網絡界面可以通過Ethernet連接，提供設置和配置選項。材料特性被存儲于可擴展材料數據庫中。