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SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀(Scanning Mobility Particle Sizer)是一個納米顆粒粒徑譜分析系統(tǒng)。
Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X / 2100X / 2200X 型號）可以確定 8 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經(jīng)集成了 X 射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），優(yōu)點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。
Palas®通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）系統(tǒng)包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X / 2100X / 2200X 型號）可以確定 8 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經(jīng)集成了 X 射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），優(yōu)點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。
Palas®通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）系統(tǒng)包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計的一個主要優(yōu)點是可以進行非常快速的測量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發(fā)生器的下游）。可以通過物理參數(shù)直接追溯每時間單位（流量）的電荷測量值。其結果是，此方法主要用作凝結粒子計數(shù)器（例如UF-CPC）校準期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內(nèi)執(zhí)行單粒子分布掃描，或者多在128個尺寸通道中執(zhí)行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化，從而導致每個尺寸通道的計數(shù)統(tǒng)計效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設備上線性和對數(shù)顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數(shù)據(jù)評估（豐富的統(tǒng)計和平均值計算）和導出功能。
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