由于精密測長儀的自身特性,在校準規范中沒有對數顯裝置的細分特性進行明確要求,使得數顯測長儀在實際使用中,對測量結果的準確度帶來一些意外的影響,使測量數據的可靠性產生疑問,特別是在φ10 mm以下的針規直徑中,很多測量值會與實際結果不一致。使用某型號的數顯測長儀 ,針對1 mm點附近的儀器示值誤差進行的驗證,對相應被測樣品 (量塊)進行測量。
精密測長儀的數顯裝置由光柵傳感器構成,目前常用的光柵類型有50線/mm、100線/mm和120線/mm幾種,正是由于光柵傳感器的這一特性,其輸出特性的轉換函數曲線并不是連續平滑的,而是具有很多離散的細密波紋。從數學上講,一個函數曲線上如果有離散的細密波紋,此曲線就不是光滑的,而不光滑的曲線是不能進行微分運算的 (即誤差大小和方向不易控制和判定)。因為在有離散微小波紋的曲線上,在很微小區域內,曲線的斜率就有可能發生急劇變化(細分誤差產生的原因)。所以光柵傳感器無論分辨力有多高,示值變動性多么穩定,都存在由此細密波紋帶來的斜率誤差 (細分誤差)。
為了保證精密測長儀的量值準確可靠,及更加合理地使用JJF1189-2008《測長儀校準規范》,有必要在數顯測長儀的校準中,增加對數顯測長儀數顯裝置細分誤差的控制。具體做法是校準示值誤差時,在選擇5個標準量塊的尺寸時,不要單純以整數標稱值的量塊做為校準用的標準,而應該輔之以整數后帶有小數尺寸的量塊做標準,對于小數尺寸,盡量是具有微米標稱值。
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