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為幫助研究人員在低束流條件下更快速地獲得各類型樣品（包括電子束敏感材料）的二維和三維化學(xué)信息，我們?cè)赥alos F200i掃描透射電鏡（S/TEM）中加裝了一對(duì)對(duì)稱設(shè)計(jì)的100 mm2 Racetrack能譜儀（雙X射線）。這一更新突破了使用非對(duì)稱EDS難以獲得有效定量數(shù)據(jù)的瓶頸，并能讓科研工作者以更快的方式在（亞）納米尺度對(duì)材料進(jìn)行表征。
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)的顯微鏡。
透射電鏡和光學(xué)顯微鏡的各透鏡及光路圖基本一致，都是光源經(jīng)過聚光鏡會(huì)聚之后照到樣品，光束透過樣品后進(jìn)入物鏡，由物鏡會(huì)聚成像，之后物鏡所成的一次放大像在光鏡中再由物鏡二次放大后進(jìn)入觀察者的眼睛，而在電鏡中則是由中間鏡和投影鏡再進(jìn)行兩次接力放大后最終在熒光屏上形成投影供觀察者觀察。
明場(chǎng)成像（Bright field image）:在物鏡的背焦面上，讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到圖像襯度的方法。
暗場(chǎng)成像（Dark field image）:將入射束方向傾斜2θ角度，使衍射束通過物鏡光闌而把透射束擋掉得到圖像襯度的方法。
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)的顯微鏡。
透射電鏡和光學(xué)顯微鏡的各透鏡及光路圖基本一致，都是光源經(jīng)過聚光鏡會(huì)聚之后照到樣品，光束透過樣品后進(jìn)入物鏡，由物鏡會(huì)聚成像，之后物鏡所成的一次放大像在光鏡中再由物鏡二次放大后進(jìn)入觀察者的眼睛，而在電鏡中則是由中間鏡和投影鏡再進(jìn)行兩次接力放大后最終在熒光屏上形成投影供觀察者觀察。
明場(chǎng)成像（Bright field image）:在物鏡的背焦面上，讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到圖像襯度的方法。
暗場(chǎng)成像（Dark field image）:將入射束方向傾斜2θ角度，使衍射束通過物鏡光闌而把透射束擋掉得到圖像襯度的方法。
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