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TEM固體熱-電樣品桿是在標準樣品臺基礎上搭建兩電極反饋控溫的加熱模塊、兩電極電學模塊，在透射電鏡中實現樣品的皮米級高分辨成像。能夠在透射電鏡（TEM）內為樣品提供可加熱的氣氛環境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結構（例如原子結構）在氣氛環境中的演變過程，以直接揭示樣品結構與其氣固界面反應性質之間的科學關系。可有效提升科研人員科研水平，極大拓展透射電鏡TEM應用范圍。
加熱模塊：精準、均勻、安全控溫，溫度精度優于0.1K，最高溫度1300℃。通過精確熱場模擬及芯片設計，實現無漂移加熱過程，可在加熱升溫過程中實現實時觀測成像。
電學（偏壓）模塊：實現電熱外場耦合反應。通過電極施加電場，對單個納米結構進行外場控制并進行電學性質的測量。通過電學控制器對樣品施加偏壓，配合電學系統控制程序用于保證微反應系統穩定可靠運行的最基本要求，滿足每一臺系統設備的微環境—電流電壓添加及實時測量，以及實現遠程智能反應條件管理控制功能。該控制程序非常適合各種現代電子器件的電流、電壓特性分析和功能測試：功率半導體材料、功率器件、電化學、能源生產、高效能源消耗等。溫度高于800℃亦可同時進行加熱和電學實驗，且保持穩定。
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