日立的OE系列火花直讀光譜儀的目標是大幅提高儀器性能的同時將價格保持在合理范圍內。在檢出限極低的情況下分析金屬中的所有主要元素，我們通過OE系列革命性的新技術確實做到了這一點。本文解釋了為什么回歸本原有助于降低成本。

 

LightWing光學系統

分析儀內部的光學系統布局的設計已*改變。儀器包含多塊檢測器，并將探測器放在單一焦平面上。這能大幅提高分辨率，重新設計的光學系統也能減少外殼的整體體積。這反過來能減少操作過程中的氬氣消耗量，有助于降低成本。另一個好處是啟動時間更短，有助于提高生產率。

CMOS檢測器技術

如前文所述，我們已經包含多個以特定方式配置的檢測器。但這還不是全部，實際上我們還重新設計了檢測器，并使用CMOS技術。這使每個檢測器的分辨率和動態范圍更高，意味著與傳統CCD檢測器相比，我們需要的探測器數量更少。現代CMOS技術在極低檢出限下也很穩定，是OE系列所具備的ppm范圍檢測能力的一個因素。

重新設計的火花光源降低能耗成本

火花直讀光譜儀的用戶知道，火花本身會產生大量熱，并消耗大量電能。我們減少了OE系列所需的余熱和能量，從而提高電光轉換效率，降低運行成本。這也意味著我們可以納入一個直流電源，用于隔離儀器主電源——這一點很重要，因為如果主電源波動的話會影響性能。

通過減少維護以優化環境穩定性

由于獲得在OE系列的設計中進行整體改變的機會，由此我們能夠觀察技術的各個方面，包括氬氣如何隨著時間的推移而影響結果。我們知道，對于非常短的波長（小于200nm），光強會逐漸降低，因此很難獲得某些元素的結果。OE750通過使用中壓力氬氣凈化系統克服了這一點，該環境隨著時間推移提供更好的穩定性和強度。這意味著系統可以用無油泵運行，從而降低功耗并減少標準化的需要。

火花臺是單獨的密封裝置

火花臺的任何泄漏或連接不*都會影響儀器性能。如果火花臺中進入空氣，會影響結果，進入灰塵會增加清潔的需要。解決辦法是將光學系統和火花臺密封在單臺裝置中，使空氣或灰塵無法進入。這也可以使等離子體源更好地傳導到檢測器上，從而提高分辨率。已對密封裝置的氬氣流進行優化，這也有助于降低氬氣消耗量。

OE系列的上述技術創新可使用戶在價格合理的儀器中獲得全面ppm級性能的金屬分析，運營成本也得以降低。

OE系列：兩種分析儀可供選擇

OE系列的兩種儀器都受益于相同的高性能和*的成本效益。OE720非常適合低檢出限，或者可選擇OE750達到更低的檢出限，并為用戶的工具包添加氮、氧或氫分析功能。