掃描電遷移率粒徑譜儀是納米顆粒測量系統,可測量氣溶膠粒徑分布,不僅能夠提供準確可靠的粒徑分析和計數功能,而且高達256原始通道能夠實現高粒徑分辨率。多組合滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求;桌面式簡便操作,易上手;連接方便,可靈活搭載各種預處理裝置;開放式數據文件,讀取和分析便捷;可實現自檢測和校準;*兼容性和靈活性,可以跟市場主流計數器兼容等。
掃描電遷移率粒徑譜儀的主要優點有:
快速結果:在60s甚至更短的時間內完成顆粒物粒徑分布的掃描;
高分辨的數據:掃描是連續的,因此在數據分布上不存在間隙。總測量通過為162個,每十進范圍64個通道,SMPS系統可為任何超細微粒粒徑測定提供較高的準確度。
寬的粒徑范圍:應用多樣性的3080系列靜電分級器和凝聚粒子計數器,可提供顆粒物粒徑測量。
寬的濃度范圍:可在范圍之間進行濃度掃描。
操作簡單:靜電分級器配有內置前通道面板和控制把手,允許用戶通過快速設定進行掃描,并監測或控制儀器功能。
可提供兩種版本。長分類柱可以確定8至1200nm的粒徑分布。該系列已經集成了X射線源作為中和器,代替放射性中和器,優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。
實時數據顯示:可在Windows操作系統下工作,操作簡單,并可實時顯示各種圖形、表格和統計數據。
系統包括一個分類器,可根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計數器對這些顆粒進行計數。三種可用的可在各種濃度范圍內實現較佳的單顆粒計數。使用了開發的演算算法,將測量數據轉化為U-SMPS的顆粒分布。
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