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三維表面形貌測量儀采用了上等光學系統,可通過非破壞觀察法生產高畫質的圖像并進行3D測量，可以滿足不同樣品的觀測需求。本產品是用于表面結構測量和表面形貌分析的一款檢測設備，測量精度重復性達到世界較高水平；關鍵硬件采用美國、德國、日本等；配備進口第三方校準標準件，高性價比微觀形貌測量設備。
應用：
三維表面形貌測量儀用來測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓、表面粗糙度等；
1、精密部件：檢測對表面磨損，表面粗糙度，表面微結構有要求的零部件，比如發動機汽缸、刀口等；
2、生命科學：測量stents支架上鍍層厚度等；
3、微電子機械系統：微型器件的檢測，醫藥工程中組織結構的檢測，如基因芯片等；
4、半導體：檢測微型電子系統，封裝及輔助產品結構設計；
5、太陽能：太陽能電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測量，制絨后3D形貌表征，粗糙度分析等；
6、紙張：紙張、錢幣表面三維形貌測量；
7、LED：用于藍寶石襯底的測量，抽檢PSS ICP后的WAFER的3D形貌。
產品特性：
1、采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨；
2、測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高；
3、測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料；
4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面；
5、不受樣品反射率的影響；
6、不受環境光的影響；
7、測量簡單，樣品無需特殊處理。
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