光譜測量可廣泛應用于許多不同的領域，如顏色測量、半導體領域里的測量、化學成分的濃度測量等。光譜測量的核心是物質輻射或散射、透射或反射的光攜帶了該物質的屬性和條件的信息，如化學和物理成份等參數。

探測器是選擇合適測量光譜系統的關鍵。在確定了需要測量的波長范圍后，根據實驗的測試速度和精度要求，選擇合適的探測器。目前市場上常見的光譜儀探測器為CCD探測器、CMOS探測器和InGaAs探測器。

 

CCD探測器分為背照式和前照式；對于在紫外區（200-350 nm）和近紅外區（900-1160 nm）既需要高量子效率又需要高信噪比和較大動態范圍的應用，背照式CCD探測器是不錯的選擇，但是價格相對前照式較高。

 

CMOS探測器測試速度快，可以在更短時間內獲取光譜，觸發延遲性能好并且在紫外波段靈敏度高，如果關注這些要點推薦選擇CMOS探測器的光譜儀。

 

InGaAs探測器在近紅外區域有著*的靈敏度。InGaAs探測器的動態范圍受暗噪聲限制。對于1750 nm以下的測量，探測器無需制冷；對于需要擴展至2000-2500 nm波長范圍的應用，需要采用二級制冷的探測器來降低暗噪聲。

 

除此之外，分辨率、靈敏度、雜散光、二級衍射效應、通信接口等也是非常重要的參數。