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晶圓檢測(cè)顯微鏡(微分干涉金相顯微鏡)采用優(yōu)質(zhì)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，同時(shí)配備明暗場(chǎng)通用的長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)平場(chǎng)消色差物鏡，多光路的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，可同時(shí)支持雙目鏡筒觀察和數(shù)碼攝像裝置觀察。
廣泛應(yīng)用于研究金屬的顯微組織，能在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、微分干涉下進(jìn)行觀察和攝影，配備專用軟件，更可同步進(jìn)行測(cè)量分析。
晶圓檢查顯微鏡一般用于晶圓、平板顯示器、印刷電路板和其他大型樣品的觀察。奧林巴斯半導(dǎo)體顯微鏡綜合應(yīng)用還是不錯(cuò)的，模塊設(shè)計(jì)很靈活，能適應(yīng)多種檢查，而且還可以和圖像分析軟件一起使用，快速生成檢測(cè)報(bào)告，用起來超級(jí)方便。
例如德國著名顯微鏡企業(yè)徠卡顯微系統(tǒng)，提供晶圓檢測(cè)顯微鏡定制化、模塊化成像解決方案，半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡、電路板檢測(cè)顯微鏡和晶圓檢測(cè)顯微鏡可幫助供應(yīng)商和設(shè)備制造商在晶圓加工、集成電路封裝、集成電路組裝和測(cè)試中快速而精確地進(jìn)行檢測(cè)和分析。
下面讓我們一起來了解一下晶圓檢查顯微鏡的應(yīng)用有哪些吧
1、高性能光學(xué)元件
在晶圓檢測(cè)顯微鏡中使用高質(zhì)量光學(xué)元件可以更高效地檢測(cè)晶圓和半導(dǎo)體器件，因?yàn)槟恍杌ㄙM(fèi)較少的精力便可觀察到微小的細(xì)節(jié)。 徠卡顯微系統(tǒng)公司的成像系統(tǒng)使用獲獎(jiǎng)光學(xué)元件，可生成無失真圖像。 光學(xué)元件可能會(huì)出現(xiàn)2種需要校正的像差：
·單色(不受光波長(zhǎng)[顏色]的影響) ，如散光、彗差和場(chǎng)曲
·多色(取決于光波長(zhǎng))。
2、觀察納米級(jí)細(xì)節(jié)的快速高分辨率成像
另外相對(duì)于晶圓檢測(cè)顯微鏡，還有一款叫-PCB電路板檢測(cè)顯微鏡的類似產(chǎn)品，顧名思義就是用于電路板生產(chǎn)的質(zhì)量控制檢測(cè)的。
PCB印刷電路板作為電子電器元件的主板或基板，PC B板上的任何小設(shè)備都可能造成一定的功能故障，甚至使整個(gè)電路板報(bào)廢，再加上PCB制造競(jìng)爭(zhēng)日益激烈，用戶質(zhì)量要求提高。
因此，PCB印刷電路板需要在每個(gè)節(jié)點(diǎn)進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量控制，以便隨時(shí)進(jìn)行質(zhì)量檢查和現(xiàn)場(chǎng)檢查。工廠在PCB和電子元件制造工作中快速準(zhǔn)確地進(jìn)行檢測(cè)、返工、分析和組裝.
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