傳統儀器通過激光對焦或視頻對焦完成上述對焦。日立的XRF鍍層分析儀FT230可以使用激光對焦，但也提供兩種自動對焦功能來加速和簡化這一步驟。

自動接近功能可測量從X射線管到零件之間的距離，并自動將X射線管移動到預定義的工作距離。自動對焦（有時又稱“與距離無關的測量”）也會測量從X射線管到零件之間的距離，但不會移動X射線管，而是將X射線管保持在相同的高度，并使用測得的距離來校正新的幾何計算模式以獲得正確結果。兩種方法均有各自的用途，使用任一種方法都可以大大提高測試程序的速度。這會讓您會節省很多時間啊！

自動接近相關說明

為從XRF鍍層分析儀獲得一致的結果，在每次進行測量時，最好使X射線管、零件和探測器之間的距離保持相同。這是因為X射線的強度取決于距離而且射線管—零件—探測器之間幾何位置的變化會影響厚度測量結果。

在一般情況下，XRF鍍層分析儀采用對焦激光和視頻對焦（評估圖像對比度）這兩種方法中的一種來保持這種重要的幾何位置。臺式分析儀的分析頭（包括X射線管和探測器）上下移動，直至分析儀對焦程序得以完成，在某些情況下，需操作員略微進行最后調整。前述程序的初始化、移動和完成需要一定時間，而且如果操作員需做出決策，也可能引入誤判。

日立FT230可配置一種被稱為自動接近的功能，只需點擊一下即可將分析頭移動到正確位置。儀器內部的傳感器可測量到樣品的距離。當啟用自動接近功能時，儀器會將前述距離與校準中所選工作距離（也被稱為焦距）進行比較，并將分析頭移至該位置。由此為操作員提供高置信度的準確結果，而無需花費較長時間，也不會在零件對焦中出錯。

一項簡單的實驗可舉例說明自動接近功能的優點。將六份高度為4.8 – 6.6”（1.9 – 2.6 cm）的零件加載到樣品室內。操作員創建多點程序，以便在各零件上分別測量一個位置。

這項操作由經過培訓的同一操作員采用兩種方法完成：一種方法是對焦激光（分析頭移動，而操作員決定零件何時對焦）；另一種方法是自動接近（分析頭自動移動到正確焦距處，無需操作員干預）。由于兩種場景中的測量時間相同，因此只需考慮程序創建時間。相關實驗結果如下所示：

僅采用激光對焦創建6點程序所需時間：44秒

采用自動接近創建6點程序所需時間：29秒

節省時間：15秒（即省時33%）

這看似省時不多，但在通常情況下，若每天重復這種操作50次，則操作員可節省12分鐘，并將所節省的時間用于開展其它工作。在200天內采用自動接近功能可為XRF操作員創造近40小時或者近1個工作周的額外生產力。自動接近功能可與廣域相機等其它功能相結合，以在擬測量樣品的制備過程中節省更多時間。

自動對焦相關說明

在定位零件進行測量后，按下開始按鈕之前的最后一項步驟是對焦零件。通常可以利用對焦激光或者圖像對比度評估程序來實現該操作。

無論采用對焦激光還是圖像對比度評估程序，分析儀的分析頭（包括X射線管和探測器）均會上下移動，直至分析儀的對焦程序得以完成，在某些情況下，需要操作員進行較小的/細微的最終調整。前述程序的初始化、移動和完成需要一定時間，而且如果操作員需做出決策，也可能引入誤判。

日立FT230也可配備自動對焦功能，無需操作員參與，而且不會移動分析儀的分析頭。當啟用自動對焦功能時，相機不斷對焦于測量十字線中的零件。相應程序甚至測量到每個零件的距離，這使得操作員可以測量具有不同高度或者臺階式幾何形狀的零部件。這種快到令人難以置信的測量速度可在確保操作員花費更少時間設置零件的同時應對更大的測試量。

一項簡單的實驗可舉例說明自動對焦功能的優點。將六份高度為4.8 – 6.6”（1.9 – 2.6 cm）的零件加載到樣品室內。操作員創建多點程序，以便在各零件上分別測量一個位置。

該操作由經過培訓的同一操作員采用兩種方法完成：一種方法是對焦激光（分析頭移動，而操作員決定零件何時對焦）；另一種方法是自動對焦（分析頭不會移動，而且操作員也沒有就對焦進行任何輸入操作）。由于兩種場景中的測量時間相同，因此只需考慮程序創建時間。實驗結果如下所示：

僅采用激光對焦創建6點程序所需時間：44秒

采用自動對焦創建6點程序所需時間：17秒

節省時間：27秒（即省時62%） 

這種省時量對于單次運行而言相當不錯；但是，考慮到通常每天至少需進行50次類似運行，可以節省多少時間？答案是一天中總共可節省22分鐘以上，而且操作員還能騰出時間開展其它工作。在200天內自動對焦功能可為XRF操作員創造超過76小時或者近兩個工作周的額外生產力。自動對焦功能可與廣域相機等其它功能相結合，以在擬測量樣品的制備過程中節省更多時間。

零件高度的范圍越大，自動對焦功能的優勢就越明顯，因為操作員在分析頭位置調整方面所花時間更少。此外，在采用對焦激光方法時，零件高度的范圍受工作距離（也被稱為焦距）限制。通過自動對焦功能，FT230可測量其高度變化不超過3.1”（80mm）的零件。 

最后，FT230臺式XRF鍍層分析儀設計針對于大量縮短測量時間。由于樣品設置和測量方法的選擇會花費大多數時間，而自動化和創新軟件的引入使FT230分析儀得以實現簡單化、智能化。