X熒光光譜儀測金儀原理

X射線熒光光譜法（XRF）測金儀被普遍認為是一種非常準確的方法，它通過用高能光子（例如X射線或γ射線）照射樣品并觀察由此產生的X射線熒光來測量材料的原子組成。

通常，X射線熒光光譜儀由激發輻射源（X射線管或放射性同位素），檢測來自樣品的受激輻射的輻射檢測器以及光譜輸出顯示組成。

在X射線熒光光譜法中，該方法開始于將樣品暴露于X射線或伽馬射線源。當這些高能光子撞擊樣品時，它們傾向于將電子從構成樣品的原子核周圍的軌道中擊出。發生這種情況時，來自原子外軌道或“殼”的電子將落入缺失電子的殼中。由于外層電子比內層電子更具能量電子，重新定位的電子具有多余的能量，這些能量被消耗為X射線熒光光子。這種熒光對于樣品的成分。檢測器收集該光譜并將其轉換為與樣品光譜中各種X射線能量成比例的電脈沖。由于每個元素都有不同且可識別的X射線特征，因此我們可以查看發射光譜的特定部分，并通過計數該扇區中的脈沖來確定樣品中所涉及元素的存在和濃度。

能量色散X射線熒光（EDXRF）依靠檢測器和檢測器電子設備解決X射線暴露在樣品上時產生的光譜峰。 XRF檢測器可以檢測到由曝光引起的不同能級，然后由功能強大的分析軟件對其進行處理。因此得出最終黃金及其他金屬成分含量結果。

XRF優勢和特點

準確測定金和所有貴金屬（如銀，鉑，鈀，銠，銥和釕）的含量同時測量所有元素，而無需根據要分析的材料切換校準

非破壞性貴金屬分析可保護貴重珠寶，古董和收藏品

精確確定其他微量合金元素（包括鉛）的存在和濃度

消除與酸測試方法相關的危害和不準確性

利用我們的集成攝像頭和小點功能，利用電子測試來捕獲圖像并專注于小區域。

測試性能