瑞士保羅謝勒研究所(PSI)的科學家研發了一種可用于X射線的消色差透鏡。即使X射線束具有不同的波長,該透鏡也能準確地將其聚焦在一個點上。有了消色差透鏡,研究人員可以更方便地利用X射線研究納米結構,有力的推動了材料、芯片和電池等領域的研發。
要想在攝影和光學顯微鏡中產生清晰的圖像,消色差透鏡。它們可以確保不同顏色,即不同波長的光,能夠清晰聚焦,從而消除模糊現象。
PSI用已有的納米光刻技術來制造衍射鏡,并用微米級的3D打印制造出折射結構,成功開發出用于X射線的消色差透鏡,解決了上述問題。

X射線消色差儀的概念和試驗裝置


該研究成果已發表在近期的《自然·通訊》上。

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