鼠標(biāo)環(huán)境可靠性測(cè)試的解決方案
鼠標(biāo)是計(jì)算機(jī)的一種外接輸入設(shè)備,也是計(jì)算機(jī)顯示系統(tǒng)縱橫坐標(biāo)定位的指示器,目前鼠標(biāo)的種類(lèi)有滾球鼠標(biāo)、光電鼠標(biāo)、無(wú)線鼠標(biāo)。鼠標(biāo)是我們常用的電子設(shè)備,它替代了鍵盤(pán)繁瑣的指令,使計(jì)算機(jī)的操作更加簡(jiǎn)便快捷。對(duì)鼠標(biāo)進(jìn)行環(huán)境可靠性測(cè)試,能夠暴露和分析鼠標(biāo)在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理,檢驗(yàn)鼠標(biāo)性能及質(zhì)量,從而保障出廠鼠標(biāo)的品質(zhì)。
有資料顯示,電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應(yīng)引起:其中由溫度引起的占40%,由振動(dòng)引起的占27%,由濕度引起的占19%,其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障,可見(jiàn)影響電子產(chǎn)品使用的因子是很多的,就以鼠標(biāo)為例子,如果溫度過(guò)高的確可能會(huì)出現(xiàn)鼠標(biāo)的燃燒和短路的現(xiàn)象。
安徽奧科為大家整理了3個(gè)常用的鼠標(biāo)環(huán)境可靠性測(cè)試解決方案,方案如下:
一、高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)
測(cè)試條件 |
1. 高溫儲(chǔ)存:溫度65±2℃,存放時(shí)間72h; 2. 低溫儲(chǔ)存:溫度-40℃,存放時(shí)間72h;
※高低溫儲(chǔ)存測(cè)試完成后,均需置于常溫下2h后檢測(cè)其功能是否正常。 |
二、高溫高濕試驗(yàn)
測(cè)試條件 |
溫度65℃/2h,濕度93%RH,測(cè)試完成后,置于常溫下2h后檢測(cè)其功能是否正常。 |
三、溫度沖擊試驗(yàn)
測(cè)試條件 |
低溫-40℃/2h,高溫65℃/2h,1min內(nèi)循環(huán)數(shù)5 更多環(huán)境可靠性解決方案可致電咨詢我們,安徽奧科將為你提供專(zhuān)業(yè)的解決方案。 |
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