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探針臺是半導體行業重要的檢測裝備之一，探針臺主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。其廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。
重光提供的TS600E-OE位移探針臺可以在測試準備和測試過程中精確移動探針位置，實現微米級別的電極接觸；同時探針前端可調整角度和長度，從而適應樣品范圍更加廣泛。位移探針臺廣泛應用于半導體、生命科學、食品研究、藥物研發、地質分析、高分子聚合物、航空航天、冶金、液態晶體、生物學等各種研究領域。技術參數如下：
| TS600E-OE | |||
| 制冷方式 | 無 | 正面觀察窗口大小 | φ41mm |
| 溫度范圍（℃） | -196到600℃ | 探針類型 | 探針后端XYZ軸方向位置可調，位移精度1um，位移范圍±6mm |
| 顯示精度（℃） | 0.1 | 探針材質 | 鎢鋼或鈹銅（探針針尖1um） |
| 控溫精度 | 0.1℃ | 探針數量 | 四個（可拓展為6個） |
| 樣品區域 | 30*35mm | 外觀尺寸 | 410*410*80mm |
| 最大加熱速率 | 50℃/min | 腔體凈重 | 5Kg |
| 最大冷卻速率 | -40℃/min | 備注 | 探針前端水平角度和長度可調 |
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