TRPL Mapping系統簡介:
時間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統 MicroTime100 & FluoTime300將正置共聚焦熒光壽命顯微鏡和熒光壽命光譜儀結合在一起,能實現幾百nm的空間分辨率和ps~s的熒光壽命測試和光譜測試。能用于檢測:熒光共聚焦成像、熒光壽命成像、時間分辨光譜、穩態激發/發射譜、時間分辨熒光共聚焦顯微光譜、自由選取ROI的微區(時間分辨)熒光成像和(時間分辨)光譜,并且支持升級單分子光譜功能(閃爍,反聚束)、拓展了FLIM和紅外部分,適用于諸多薄膜、納米材料的研究,是研究時間分辨光致發光的理想工具。
TRPL Mapping系統工作原理圖:
2、CIGS MAPPING
對CIGS材料的mapping,通過熒光壽命的分析,可以直觀看出缺陷
3、perovskite solar cells
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