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微區掃描電化學工作站(Scanning Electrochemical Microscope, SECM)是一種利用掃描探針進行微區電化學測量的儀器。它通過控制掃描電極的運動，以微米級的空間分辨率對樣品進行掃描，可以在不破壞樣品表面的情況下，實現對樣品表面的電化學反應過程進行高精度的定位和測量。
工作原理是在掃描探針和樣品之間建立微小的電化學反應區，通過控制掃描探針的移動和電位的變化，可以對該反應區的電化學行為進行監測。SECM通常采用的探針有微電極探針、納米電極探針和微型懸臂梁探針等，這些探針能夠對微區進行高精度測量，并且可根據需要進行選擇和更換。
微區掃描電化學工作站具有以下特點：
1.非接觸式測量：SECM通過掃描電極與樣品之間的微小電化學反應區進行測量，無需直接接觸樣品表面，不會對樣品表面造成損傷。
2.高精度測量：SECM具有微米級的空間分辨率，可以對微小的電化學反應進行定位和測量，可以探測到微區域內的化學反應特征。
3.實時測量：SECM可以實時監測電化學反應的過程，能夠記錄瞬態反應的變化過程。
4.可控性強：SECM能夠對掃描探針的位置、掃描速率、電位等參數進行精細調節，從而能夠對不同的電化學反應進行控制和調節。
微區掃描電化學工作站在化學、生物、材料科學等領域具有廣泛的應用，如對電化學反應的機理和動力學進行研究、對生物分子和細胞進行高精度測量、對納米材料表面的電化學特性進行研究等。需要注意的是，SECM在使用過程中需要注意探針的選擇和更換，同時要保持樣品表面的光潔度和穩定性，以獲得高質量的測量結果。
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