徠卡顯微鏡使用 LAS X Grain Expert 軟件提供實用、準(zhǔn)確且可再現(xiàn)的晶粒度和微觀結(jié)構(gòu)分析解決方案。晶粒度使用自動應(yīng)用的傳統(tǒng)方法或高級數(shù)字方法進(jìn)行分析。分析方法符合各種國際及國家標(biāo)準(zhǔn)。

LAS X Grain Expert 的優(yōu)勢：工作流程簡明，報告可定制

Leica Grain Expert 提供全面的材料研究和冶金學(xué)晶粒度分析技術(shù)。用戶可以確信分析過程符合不同的實驗室要求。Leica Grain Expert 涵蓋面向金相學(xué)晶粒尺寸分析的多個標(biāo)準(zhǔn)，如ASTM E112、 DIN/EN/ISO 643、GOST 5639和JIS G0551。

其采用先進(jìn)的圖像處理技術(shù)，可自動增強(qiáng)和準(zhǔn)確檢測晶界。操作員始終可修改和確認(rèn)發(fā)現(xiàn)的結(jié)果。分析結(jié)果可用于驗證材料是否符合買家與制造商確定的技術(shù)規(guī)范，識別制造過程中的變動，并提供材料結(jié)構(gòu)和屬性的研究數(shù)據(jù)。

Grain Expert 軟件簡單易學(xué)。LAS X Grain Expert可幫助用戶選擇最合適的高效晶界檢測算法。只需選擇與樣品最相似的示例圖像，便可應(yīng)用正確的分析算法。

在晶界檢測之前，可使用附帶的圖像分析模塊進(jìn)行二進(jìn)制或圖像處理。這些技術(shù)常用于晶界模糊的情形，以便更好地呈現(xiàn)晶界并應(yīng)用算法。即使腐蝕效果不佳，也不會降低分析質(zhì)量。針對質(zhì)量控制和研發(fā)目的，還可定制基于 Excel 的報告模板。

LAS X Grain Expert 軟件能夠用 G (晶粒度號) 表示平均晶粒度，并計算:

關(guān)于使用 Leica LAS X Grain Expert 軟件進(jìn)行晶粒度分析的示例請參見右側(cè)的表格以及下面的圖表。