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透射電鏡樣品桿（TEM樣品桿）是透射電鏡中的重要部件之一，主要作用是將待檢測樣品放置在電子束中心，使其能夠被電子束穿過并產生圖像，以進行高分辨率的顯微圖像觀察。
TEM樣品桿的工作原理基于電子束的性質，電子束可以穿透物質，但是會在物質中發生散射。為了得到高質量的TEM圖像，需要將樣品放置在電子束中心，使電子束盡可能穿透樣品并減少散射產生的影響。TEM樣品桿的設計可以使得樣品在以盡量小的角度與電子束相交的情況下，滿足一定的條件進行高分辨率的成像。
透射電鏡樣品桿的操作方法包括以下幾個步驟：
1.制備樣品：TEM樣品需要制備成極薄的薄片或纖維，通常使用離子薄片機或溶液析出法制備樣品。
2.放置樣品：將樣品放置在TEM樣品桿的樣品架上并定位到特定區域，需要借助顯微鏡或其他精確定位裝置進行操作。
3.調整TEM參數：在樣品放置完成后，需要根據樣品類型和所需成像方式調整TEM參數，包括電子束能量、聚焦、準直等。
4.開始成像：當樣品放置并調整完畢后，可以開始進行TEM成像。電子束從電子源中發出并通過TEM樣品桿，穿過樣品后到達能量選擇器，選擇器中只允許特定的電子能量穿過。經過選擇器后的電子會被透鏡系統聚焦到投影儀上，形成高分辨率的TEM圖像。
整個過程需要經過高精度的操作和控制，對設備要求較高，但能夠獲得高分辨率的顯微圖像，并且樣品直接被放置在電子束中心，能夠進行準確的成像觀察，具有非常重要的作用。
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