手機(jī)版
化工儀器網(wǎng)手機(jī)版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關(guān)注視頻號
Thermo Scientific™ Nexsa™ X射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)具有分析靈活性，可大限度地發(fā)現(xiàn)材料潛能。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時(shí)，以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性，從而實(shí)現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測和高通量。
賽默飛X射線光電子能譜儀 標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能：
·絕緣體分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技術(shù)聯(lián)合
·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴(kuò)展
·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
·用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
·小束斑分析
可選的升級：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中。式自動(dòng)運(yùn)行
·ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。
·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價(jià)帶能級結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
·拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構(gòu)和帶隙信息
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé)，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí)，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
采購中心