反射干涉頻譜法 rifs (Reflectometric Interference Spectroscopy)是讓白光照射在具有光學厚度的薄膜上,光線在反射過程中會發生干涉,檢測樣品與膜上的分子結合后會使光學厚度發生改變,從而使反射光的波長發生相應的改變,通過檢測反射光的峰位的改變情況,來反映分子間的相互作用情況。該方法可用于功能性高分子的評估等領域,同時還可對動態反應進行無標記,實時觀測。
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。