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日立掃描電鏡是一種具有高放大倍率的電子顯微鏡。它可以使用戶獲得高分辨率的二維和三維成像結果，是目前在科學、醫療、環保、工程等領域廣泛應用的高級成像設備。以下是日立掃描電鏡的主要特點及其分類。
特點：
1.高分辨率：日立掃描電鏡具有高的空間分辨率，可以將細小的表面結構清楚地顯示出來，有助于使用者識別微觀物體的形態、紋理和組成。
2.大深度：相對于普通的電子顯微鏡，日立掃描電鏡在成像過程中不會出現模糊，可以讓使用者看到更多的物體信息以及更豐富的三維圖像。
3.易于操控：用戶可以通過計算機監控和操縱顯微鏡，方便、簡單地實現電鏡成像，提高了工作效率和成像質量。
4.應用廣泛：日立掃描電鏡適用于各種樣品的成像與分析，幫助用戶更好地了解物質的內部結構、成分和形態。
分類：
1.傳統掃描電鏡(SEM):傳統的日立掃描電鏡是最常見的電鏡類型之一，其技術是通過利用高速掃瞄電子束，觀察和檢測微觀材料表面的形態、結構、成分等特征，其利用范圍廣泛，可用于分析、制造、環境等領域。
2.聚焦離子束掃描電鏡(FIB/SEM)：聚焦離子束掃描電鏡可以對含有復雜材料的材料和小顆粒樣品進行剖鑿、切割、測量等工作，有很高的成像精度和分辨能力。主要應用于半導體/電子業的芯片制造以及石油/天然氣勘探等領域。
3.低溫掃描電鏡(Cryo-SEM):低溫掃描電鏡使用冷卻樣品的技術，可以不同程度地去除樣品熱致損傷與失真、氫鍵斷裂等。在材料學、細胞生物學等領域有重要的應用。主要適用于敏感、易變形的樣品成像。
綜上所述，日立掃描電鏡具有高分辨率、大深度、易于操控、適用范圍廣等特點，并且根據不同的應用場合和技術要求，還被分為傳統掃描電鏡、聚焦離子束掃描電鏡和低溫掃描電鏡等多種類型。
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