一、概述

      IsoVu 光隔離探頭發現非隔離探頭隱藏的快速震蕩的信號。IsoVu™ 探頭技術實際上通過光學隔離消除了共模干擾。這樣就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基準電壓上提供精確的差分測量。借助我們的 IsoVu Generation 2 設計，您能獲得 IsoVu 技術的所有優勢，但大小僅為原來探頭尺寸的 1/5。

      IsoVu Gen 2 探頭憑借多功能 MMCX 連接器以及帶寬、動態范圍和共模抑制組合，為隔離探頭技術設定新的標準。

二、應用

（1） 開關模式電源設計

（2）寬禁帶 GaN 和 SiC 設備的功率 FET 設計/分析

（3）逆變器設計

（4）電機驅動設計

（5）BCI 或 ESD 測量

（6）電流分流器測量

三、全新升級

      對于傳統差分探頭，您必須在高帶寬和高電壓之間做出選擇。IsoVu 探頭采用屏蔽同軸電纜和隔離功能，提供高帶寬和 ±2500V 的差分電壓范圍。

      第二代IsoVu TIVP探頭提供 200 MHz、500 MHz 和 1 GHz 的一系列帶寬，以適合您的預算并構建具有特定項目所需性能的工作平臺。

四、技術參數

五、調試 ESD 問題

       如果超出功能測試范圍來解決 ESD 故障根本原因，可能會不盡如人意。使用傳統電探頭時，即使示波器位于法拉第籠外，ESD 放電也會耦合到探頭中并沿電纜向下傳播至示波器。示波器上看到的任何波形均不能代表測試點實際發生的情況。但受益于光學隔離技術，IsoVu 第 2 代探頭可以防止耦合，并且可以在 ESD 和 EFT 測試期間提供更準確的 DUT行為，而不僅僅是簡單的系統測試。