鹵化物鈣鈦礦已成為下一代光電應用(如太陽能電池和發光二極管)的特殊候選者。鈣鈦礦薄膜在微觀和納米尺度上具有非均質性。對納米尺度的理解是開發和改進這些新型材料的基礎。CL允許在高空間分辨率下探測材料的特性。然而，這些軟半導體對電子束損傷非常敏感，這主要阻礙了CL的使用。

       利用脈沖模式掃描電子顯微鏡陰極發光技術(PM SEM-CL)對雜化鈣鈦礦薄膜的研究是有用的。這些發現是由Attolight Allalin設置實現的。由于電子束的低劑量脈沖特性，通過獲取CL高光譜圖，可以在納米尺度上對雜化鈣鈦礦薄膜的發射特性的非均質性進行成像。這些優化的參數還可以獲得多晶薄膜的時間分辨CL，與光致發光類似物相比，顯示出明顯更短的載流子動力學，這表明電子束與樣品的相互作用歸因于光束損傷。

        這些發現代表了開啟CL高光譜測繪和TRCL在更光束敏感的混合鈣鈦礦成分上的應用的有希望的一步。此外，我們預計低劑量下的CL將在解決其他有機和光束敏感半導體的復雜納米尺度方面發揮重要作用。

圖：空間分辨CL圖對降低光束電流顯出更強大發射。CW（連續波）和 PM（脈沖模式）電子束采集