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薄膜厚度測量儀，又被稱為薄膜測厚儀、膜厚測試儀、薄膜厚度儀等，是一種用于測量薄膜、薄片、塑料片材、鋁箔、銅箔、電池隔膜、紙張、紙板等材料厚度的儀器設(shè)備。
機(jī)械接觸式薄膜測厚儀的測試原理，是通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度。在測試前，儀器的測量頭落在設(shè)備砧板上，傳感器讀取測量頭的初始位移值，測量頭抬起后，將試樣放置在砧板紙上，測量頭以同樣的壓力落在試樣上，傳感器讀取測量頭的位移值，兩次位移值之差則為試樣的厚度值。
薄膜厚度測量儀薄膜測厚儀技術(shù)參數(shù)：
測試范圍（標(biāo)配）：0～2mm
分辨率：0.1μm
重復(fù)性：0.4μm
測量范圍（選配）：0～6、0～12mm
測量間距：0～1000mm（可設(shè)定）
進(jìn)樣速度：1.5～80mm/s（可設(shè)定）
測量方式：機(jī)械接觸式
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