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掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)是與掃描電鏡(SEM)集成，進行高溫力學性能測試一體化分析的科研儀器。可以在高溫下將材料的宏觀力學性能與對應的組織結構進行數(shù)萬倍以上放大并進行實時觀測和顯微成像，主要用于研究材料在高溫下的力學性能、變形、斷裂等失效機制微觀過程的觀測，該加熱系統(tǒng)也可以單獨使用。
本公司提供的掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)有優(yōu)異的熱學性能：
1.高精密紅外測溫校正，微米級高分辨熱場測量及校準，確保溫度的準確性。
2.超高頻控溫方式，排除導線和接觸電阻的影響，測量溫度和電學參數(shù)更精確。
3.采用高穩(wěn)定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料)，既是熱導材料又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關系，加熱區(qū)覆蓋整個觀測區(qū)域，升溫降溫速度快，熱場穩(wěn)定且均勻，穩(wěn)定狀態(tài)下溫度波動±1℃。
4.掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)采用閉合回路高頻動態(tài)控制和反饋環(huán)境溫度的控溫方式，高頻反饋控制消除誤差，控溫精度±1 ℃。
5.多級復合加熱MEMS芯片設計，控制加熱過程熱擴散，極大抑制升溫過程的熱漂移，確保實驗的高效觀察。
6.加熱絲外部由氮化硅包覆，不與樣品發(fā)生反應，確保實驗的準確性。
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