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原子力顯微鏡(Atomic force microscopy，AFM)是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。它屬于繼光學顯微鏡、電子顯微鏡之后的三代顯微鏡。
原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖的尖*原子與樣品表面原子間存在較微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。
功能應用：
1、生物樣品表面在納米尺度下進行觀測形貌及力學等物理特性測試；
2、在分子水平上實時動態地研究結構與功能的關系；
3、對溶液中生物分子表面的各種相互作用力進行測量；
4、在材料科學、納米生物、物理學、化學、電子學、半導體等領域中的相關應用，對金屬、半導體、陶瓷、有機物、高分子等樣品表面在納米尺度下進行觀測形貌及力學等物理特性測試。
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