FISCHERSCOPE XAN 250菲希爾X射線熒光測量儀概述:
高性能X射線熒光測量儀,配有非常先進的硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
FISCHERSCOPE XAN 250菲希爾X射線熒光測量儀特點:
高性能機型,具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向,可以非常簡便地實現樣品定位
FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀典型應用領域:
對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析,例如,玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業,以及在金屬精煉領域,對合金進行高精度的分析
用于高校研究和工業研發領域
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