Holmarc 推出了一種新型創新的高靈敏度和高磁場光譜法拉第/克爾效應測量設備，采用 VIS-NIR 波長。HOLMARC A216 FR/KR 測試站提供標

準化的測試解決方案，適用于各種光學旋轉測量應用。模塊化硬件設計允許用戶在一臺儀器中自動測量法拉第效應、MOKE 和橢偏儀。

專為磁光學材料研究和測試而設計，包括鐵磁和鐵磁薄膜和材料的磁特性分析。測量包括超薄磁性薄膜和多層膜的磁滯回線、橢圓度測量、介電材

料薄膜厚度測量、折射率、Delta 和 Psi 測量等。系統可在極性、縱向和橫向配置下運行。

                                                                                               規格

  光源： Spectra 氘燈/鹵素燈或氙弧燈

    單色儀 ：    Quasar 300F Czerny-Turner 型

    波長范圍：380 - 850 納米

    準直和聚焦鏡：50 毫米直徑，300 F

    光學光柵：1200 l / mm

    光譜色散：2.6 nm / mm

    光柵尺寸：50 x 50 毫米

    絕對衍射效率：45 - 65

    狹縫寬度：0 ~ 3 mm 連續可調

    分辨率：0.1 納米

    波長精度：0.2 nm

    波長重復性：0.1 nm

    雜散光：10-3

    線性色散的倒數：2.7 毫米

    光譜線半寬：0.2 nm @ 586 nm

    偏振分析方法：旋轉分析方法

    ARMS ：    步進電機控制自動定位

    光斑直徑：1 - 5 毫米

    薄膜支架 樣品尺寸：1 - 12 mm

      (可根據要求提供定制支架）

    比色皿：10 毫米路徑長度石英比色皿

    樣品室選項：高/低溫樣品架

    樣品進樣裝置：步進電機控制自動定位系統

    電磁單元：PC 控制恒流操作

    冷卻方式：水冷

    最大磁場：1.75 特斯拉 @ 12 毫米磁極間隙

    最小磁場 磁場檢測：1 高斯

    磁場精確度：± 0.05

    磁場檢測：基于霍爾探針（基于 PC 的磁場測量）

    磁場反饋 ：    霍爾元件

    冷卻器：5 ~ 25°C 冷凍水（用于冷卻電磁鐵）

    容量：2 升/分鐘

    電磁鐵電源：雙極型（最大 ± 90 V/5A）

      2.5 千伏安交流 220 伏 50 赫茲

    控制裝置：1 kVA AC 220V 50Hz

    軟件 ：    Spectra ORMS 軟件

性能

    光學旋轉分辨率：± 0.009 度

    檢測靈敏度：0.009 度（透明度大于 20%時）

    穩定性：0.03 度（透明度大于 20%時）

    橢圓度測量：± 0.01 度

    光學旋轉測量范圍：± 90 度

    測量波長范圍：380 - 850 納米

    光譜帶寬：1 納米（可變帶通高達 10 納米）

    最大磁場：11,000 高斯 @ 20 毫米極間隙

    最小磁場 磁場檢測：1 高斯

    磁場精確度：± 0.05

測量項目

    或 具有法拉第效應的薄膜、晶體、流體等的測量

    測量透明固體和液體的維爾德常數

    法拉第旋轉角/橢圓角

    極性克爾旋轉角/橢圓角

    所需波長下的磁場與法拉第旋轉角特性的關系

    法拉第旋轉角 vs. 波長色散特性

    法拉第旋轉角與熱依賴性（可選）

測量光學特性

    光學旋轉

    薄膜厚度

    折射率

    吸收系數

    光導率

    相速度

    群指數

    布儒斯特角

    空氣折射率

    摩爾折射率

    光子能量

    典型動量

    動量

    群速度

    PSI - Δ

    ε1和2