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高頻探針通常用于測試高頻信號，在半導體、材料科學、生物學等眾多領域有廣泛應用。例如，在半導體測試中，高頻探針可用于測量半導體材料的表面電導率和電阻率等參數。
高頻探針的工作原理基于掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)技術。它通過機械掃描系統將探針尖端移動在樣品表面上，通過掃描圖像的獲取確定表面形貌。同時，高頻探針還利用懸臂梁結構，將微小的力信號轉換為電信號。當探針接近樣品表面時，彈性變形會引起探針懸臂梁頻率的改變，從而實現對樣品表面力(如原子間相互作用力、分子吸附力等)和電學性質(如電導率和電阻率)的測量。
使用注意事項：
在使用前，需要確保高頻探針與測試儀器的連接牢固，避免測試中出現松動或接觸不良的情況。
在測試過程中，應保持測試環境的穩定性，避免外界干擾和信號失真。
應注意高頻探針的使用壽命，及時更換損壞的配件，以確保測試精度和穩定性。
應按照操作說明書的要求進行操作，避免錯誤使用和操作失誤。
在使用過程中，應注意安全問題，避免觸電和其他安全事故發生。
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